RoentDek 粒子、光子探測器、延遲線探測器 技術參數

倫德克（RoentDek）延遲線探測器

（延遲線探測器的功能與局限：了解更多）

單粒子 / 光子探測器

（光子計數功能）

具有時間與位置敏感性的延遲線探測器（DLD）

空間分辨率：優于 45 微米均方根（RMS）

（最佳性能：17 微米均方根（RMS））

時間分辨率：優于 100 皮秒均方根（RMS）

（最佳性能：21 皮秒均方根（RMS））

有效直徑：40 毫米、80 毫米（最大可達 150 毫米）

可用計數率范圍：從幾赫茲（Hz）到幾兆赫茲（MHz）

包含微通道板（MCP）

也可提供簡易定時陽極版本（僅飛行時間測量：DET40 / DET75 型號）（鏈接）

可選配置：配備熒光屏（鏈接）

操作簡便

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具備多擊中探測能力的探測器

（“零死時間"—— 六陽極（HEXanode）探測器）

 三層設計，實現零死時間

專為多粒子事件設計

（例如：分子裂解過程）

更高的圖像線性度

有效直徑：40 毫米至 120 毫米

適用于 應用場景

可選配置 1：帶中心孔的延遲線探測器

可選配置 2：搭配高速模數轉換器（ADC）的讀出系統

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便捷式螺栓安裝系統

（例如：適用于工業應用場景）

操作簡便的系統：

讀出陽極置于真空環境外部

同樣適用于強磁場環境

可支持高達 20 千伏（KV）的微通道板（MCP）電壓

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光子探測

（例如：來自寬場顯微鏡、熒光壽命成像顯微鏡（FLIMS）的光子）

具有時間與位置敏感性的光電倍增管

適用于需位置探測的單光子計數（TCSPC，時間相關單光子計數）

緊湊型密封外殼

無需真空室

采用外部延遲線陽極進行讀出

可能的應用場景：

熒光顯微鏡（FLIMS，熒光壽命成像顯微鏡）

閃爍體產生的次級光子流

寬場成像