法國phasics 波前分析儀 SID4技術(shù)參數(shù)

 法國Phasics 公司的產(chǎn)品基于其波前測(cè)量技術(shù)，即4 波橫向剪切干涉技術(shù)。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增強(qiáng)型改進(jìn)型哈特曼掩模的基礎(chǔ)之上，這種技術(shù)將高分辨率和大動(dòng)態(tài)范圍較好結(jié)合在了一起。任何應(yīng)用下，其都能實(shí)現(xiàn)全面、簡便、快速的測(cè)量。具有如下技術(shù)優(yōu)勢(shì)：高分辨率的相位圖，高分辨率可達(dá)400ｘ300。具有直接測(cè)量高發(fā)散光束的能力消色差，匹配CCD整個(gè)探測(cè)范圍，用于不同波長光而無需額外校準(zhǔn)。應(yīng)用方向：激光束質(zhì)量分析自適應(yīng)光學(xué)光學(xué)系統(tǒng)測(cè)量生物成像熱成像，等離子體表面物理

 法國Phasics 公司的產(chǎn)品基于其波前測(cè)量技術(shù)，即4 波橫向剪切干涉技術(shù)。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增強(qiáng)型改進(jìn)型哈特曼掩模的基礎(chǔ)之上，這種技術(shù)將高分辨率和大動(dòng)態(tài)范圍較好結(jié)合在了一起。任何應(yīng)用下，其都能實(shí)現(xiàn)全面、簡便、快速的測(cè)量。具有如下技術(shù)優(yōu)勢(shì)：高分辨率的相位圖，高分辨率可達(dá)400ｘ300。具有直接測(cè)量高發(fā)散光束的能力消色差，匹配CCD整個(gè)探測(cè)范圍，用于不同波長光而無需額外校準(zhǔn)。應(yīng)用方向：激光束質(zhì)量分析自適應(yīng)光學(xué)光學(xué)系統(tǒng)測(cè)量生物成像熱成像，等離子體表面物理