意大利 ISS 快速熒光壽命成像系統 FastFLIM Q2技術參數

激光共焦多維成像系統：FLIM / FCS 時間分辨的空間分辨顯微系統：ISS 推出新一代的快速熒光壽命成像系統FLIM/PLIM。成像速度可達 20 fps 256×256），自由選擇1×1到4096×4096像元分辨率；同時獲取熒光壽命成像和共焦強度成像數據，保持單分子級的檢測靈敏度。用于化學、納米、能源、生物等學科方向，單分子、活細胞、微區成像及形貌、能級結構和能量傳遞特征的機理研究。滿足上轉換量子點及相關材料的壽命成像測試ISS以整機的熒光壽命成像系統為己任，實現共焦三維掃描模塊（針孔，二維振鏡、壓電臺或自動工作臺）和時間分辨模塊的結合，提供＜100ps-100ms的全時域熒光壽命檢測；同時軟件融合Phasor Plots熒光壽命直讀半圓規的矢量圖技術，可視化、直觀的提供熒光壽命分布及數值。

熒光壽命成像數據分析進入直讀時代。ISS 激光共焦掃描熒光壽命成像系統，還可以同時滿足以下特殊需要：1. 雙光子的熒光壽命 FLIM/PLIM 成像；2. 深紫外激發的熒光壽命 FLIM / PLIM 成像；3. 紅二區熒光壽命 FLIM /PLIM 成像；4. 激光掃描大視場活體成像 FLIM /PLIM ；5. 光譜采集及光譜成像；6. AFM聯用--活細胞工作站聯用--冷凍及加熱工作臺聯用；7. 納米顆粒三維跟蹤；（專有技術）

主要功能描述：（可以選擇雙光子功能）激光共焦熒光強度成像LCM；熒光壽命成像FLIM，磷光壽命成像PLIM；上轉換熒光（壽命）成像，稀土發光（壽命）成像，延遲熒光（壽命）成像；熒光波動成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS，scan-FCS），FLIM-FRET成像；熒光定量成像；單量子點發光（壽命）成像，單分子及單分子熒光共振轉移成像smFRET，包括交替激發PIE成像；穩態及瞬態偏振成像；微區熒光光譜采集 400-1100nm；反聚束測試（含專業軟件）；活細胞工作站升級（含多孔板）儀器特點：實時直讀式獲得熒光壽命數值及變化趨勢，FRET效率分布；選擇350nm-1100nm加上900nm-1700nm波長范圍檢測器，2-4通道檢測器，用于成像，FLIM-FRET；可以升級無波長干擾AFM（正置或倒置），實現同區域形貌和FLIM同步測試；紫外-可見-紅外激發波長，單波長或超連續激光器；單光子或雙光子的激光器；

主要技術指標1. 熒光壽命測試范圍：100ps-100ms；2. 最小時間分辨率≤1ps；3. 數據計數速率：65 MHz/channel4. 檢測通道：upto 8 channels；5. 標配xy振鏡掃描，5kHz掃描頻率，配合xy閉環自動臺實現大區域掃描；6. Phasor plots 用于數據分析；7. 光譜采集；400-1100nm8. 掃描透射成像；9. 界面聚焦系統；10. 變溫附件；77k-500k；